JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀

  JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于不同金屬材料電阻測(cè)試的專業(yè)設(shè)備，不管是銅金屬材料，導(dǎo)電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設(shè)備，金屬電阻率測(cè)試方案核心原則：一是可以用專門測(cè)試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測(cè)試范圍能夠更好的為你選配四探針測(cè)試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時(shí)間長。WDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是判斷金屬性質(zhì)的重要設(shè)備，也是材料生產(chǎn)廠家和科研的重要設(shè)備。

一、主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1、硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；

2、柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻

3、電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量

4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍

1、電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω

2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

3、方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

4、電壓量程： 20.00mV～2000mV

5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A

6、誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字

7、材料尺寸：直徑：圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，

         方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，

         長(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,

         測(cè)量方位: 軸向、徑向均可

8、探頭類型：

9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)

10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)

11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功   耗：<20W

12、外形尺寸：主   機(jī)  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高

       凈   重：≤2.5kg

                 導(dǎo)電金屬箔材

                  銅金屬材料

                      金屬材料